雙電測四探針檢測儀 型號:MHY-25871

概述
MHY-25871型雙電測四探針檢測儀是運用直線或方形四探針雙位測-改形范德堡測量方法測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法家標準并參考美 A.S.T.M 標準。利用電探針、電壓探針的變換，行兩次電測量，對數(shù)據(jù)行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提度，別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。 
儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等分組成。
主機主要由恒源、分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，USB通訊接口。儀器主機所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關(guān)輸入；具有零位、滿度自校能；測試能可自動/手動方式；儀器操作可由配套軟件在PC機上操作成，也可脫PC機由四探針儀器面板上立操作成。測試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機數(shù)碼管直接顯示，也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打??！
探頭選配：根據(jù)不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量。
測試臺選配：般四探針法測試電阻率/方阻配HAD-A或HAD-B或HAD-C或HAD-F型測試臺。
詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的點與選型參考》
儀器具有測量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、智能化程度、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等點。
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試，別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
三、基本參數(shù)
3.1  測量范圍
電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm
方  阻：5×10-4～1×106 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
電  阻：1×10-5～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω
3.2  材料尺寸(由選配測試臺決定和測試方式?jīng)Q定)
直    徑：HAD-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
HAD-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長()度：測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限.
測量方位: 軸向、徑向均可